產(chǎn)品中心
PRODUCTS CENTER
當(dāng)前位置:首頁(yè)
產(chǎn)品中心
偏光顯微鏡
光薄片掃描電鏡
sjdy-M2礦物激光掃描偏光顯微鏡




產(chǎn)品簡(jiǎn)介
可實(shí)現(xiàn)礦物自動(dòng)掃描與識(shí)別分析的偏光顯微鏡,礦物識(shí)別與成分測(cè)定,礦物自動(dòng)掃描成像,一臺(tái)機(jī)器多種功能用途,一個(gè)價(jià)格比肩多個(gè)設(shè)備
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
以可靠的、可重復(fù)的方式通過(guò)透射光和 反射光創(chuàng)建高質(zhì)量的數(shù)字化巖相分析數(shù)據(jù)。這款專為巖相分析而設(shè)計(jì), 結(jié)合了速度快的電動(dòng)偏光采集模式,和集可視化、分析、協(xié)作為一體的多 樣軟件生態(tài)系統(tǒng)。全自動(dòng)采集與我司質(zhì)量相結(jié)合,即使在處理數(shù)百個(gè)或數(shù)千 個(gè)樣品時(shí)也可以確保始終如一的高圖像質(zhì)量。電動(dòng)單偏光和正交偏光可以分 析多色性和雙折射,而圓偏光可以不受晶粒取向影響,快速評(píng)估最大雙折射 特征。 軟件生態(tài)系統(tǒng)中,數(shù)據(jù)可以無(wú)縫集成到復(fù)雜的數(shù)字分析工作流程中,可以在易于使用且直觀的環(huán)境中對(duì)復(fù)雜的多通道偏 光數(shù)據(jù)進(jìn)行可視化和查詢; 可以基于強(qiáng)大的機(jī)器學(xué)習(xí)識(shí)別相位, 可以在分類圖像上進(jìn)行最佳測(cè)量,從而對(duì)礦物信息、晶粒 大小和礦物分布進(jìn)行定量測(cè)量。
數(shù)字化巖相分析顯微鏡:對(duì)復(fù)雜的數(shù)字化巖相數(shù)據(jù)進(jìn)行可視化
管理構(gòu)成大規(guī)模巖相薄片掃描的多通道圖像,需要專門的可視化解決方案。使用全新的可直觀地瀏覽豐富的數(shù)據(jù)集,這一方法超越了標(biāo)準(zhǔn)的巖相分析顯微鏡。每個(gè)完整 的 版本都可用,它讓您能夠選擇要顯示哪種觀察方式(明場(chǎng)、單偏光、正交偏光、圓偏 光和熒光),并能夠在可用的偏光角中同步移動(dòng)。它甚至?xí)詣?dòng)同步圖像旋轉(zhuǎn),從而使樣品 與傳統(tǒng)巖相分析光學(xué)顯微鏡中所顯示的一模一樣,促進(jìn)實(shí)驗(yàn)室和在線教學(xué)環(huán)境中的學(xué)習(xí)過(guò)程, 創(chuàng)造出一個(gè)沉浸式的巖相體驗(yàn)。
地質(zhì)教學(xué)和研究需要全球合作。通過(guò)混合 型學(xué)習(xí),能夠遠(yuǎn)程訪問(wèn)教學(xué)資料,這增強(qiáng) 了傳統(tǒng)的教學(xué)方式,可以更容易更完整地 吸收復(fù)雜的想法。對(duì)于分布式研究小組或 資產(chǎn)團(tuán)隊(duì)來(lái)說(shuō),通過(guò)數(shù)字界面與數(shù)據(jù)進(jìn)行 互動(dòng)的能力是不可少的,這樣才可以始 終無(wú)縫地分發(fā)和訪問(wèn)數(shù)據(jù)。直接從該在線 門戶下載數(shù)據(jù),以享受 任何許可 版本 提供的豐富功能。
圖像分析
從光學(xué)顯微鏡數(shù)據(jù)集中提取定量信息的傳統(tǒng)方法(即計(jì)點(diǎn)法)極為耗時(shí),而且將可提取的數(shù) 據(jù)限制在簡(jiǎn)單的模態(tài)礦物分析和結(jié)構(gòu)定性分析中。未來(lái)結(jié)合先進(jìn)機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)可以直接 從光學(xué)顯微鏡圖像中將礦物分類。將訓(xùn)練好的模型集成到自動(dòng)圖像分析程序中,從而可以自 動(dòng)測(cè)量和報(bào)告礦物、孔隙以及晶粒的大小。 模型一旦訓(xùn)練完成,便可以應(yīng)用于類似種類或批次的多個(gè)樣本。這樣便可以對(duì)樣品礦物和結(jié) 構(gòu)的分布變化進(jìn)行定量評(píng)估,例如通過(guò)一系列拓展巖心切片或視野橫切片。
公司郵箱: topthreegeoscience@163.com
服務(wù)熱線:
公司地址: 上海市閔行工業(yè)園區(qū)
Copyright © 2025 三嘉地研(上海)儀器設(shè)備有限公司 All Rights Reserved
備案號(hào):滬ICP備2025137830號(hào)-1
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡(jiǎn)介 企業(yè)文化 榮譽(yù)資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
賽默飛ICP光譜儀 sjdy-M2礦物激光掃描偏光顯微鏡 MICAP-OES 1000便攜式ICP-OES光譜儀 賽默飛等離子體光譜儀